6月3日，由材料科学与工程学院研究生会牵头、纳瑞科技（北京）有限公司联合承办的“材企论坛”第八期专题讲座在沙河校区J0-001教室举行。纳瑞科技特聘专家贺连龙老师应邀作题为《透射电镜显微分析及其FIB样品制备在材料科学研究中的应用》的专题报告。

贺老师系统梳理了TEM、SEM、STEM三类主流电镜的工作原理与适用场景，重点阐释了聚焦离子束（FIB）在样品制备中的应用价值。他指出，FIB可精准定位目标区域并完成微纳加工，在器件失效分析、界面表征等领域优势显著，同时提醒FIB制样属于破坏性加工，可能产生伪影，影响数据真实性。

结合大量实测案例，贺老师分别从前沿新材料、半导体工业两大领域举例，展示FIB-TEM在钙钛矿、高熵合金、芯片封装失效分析、微纳刻蚀等场景的应用。交流环节，在场同学围绕设备实操、样品制备难点踊跃提问，老师结合一线科研经验逐一答疑解惑。

“材企论坛”坚持产学研深度融合，持续联动行业优质资源，助力学生接轨产业前沿。未来学院将继续推出系列活动，更多精彩，敬请期待！